Анализировали морфометрические МРТ-показатели, косвенно свидетельствующие об изменениях в структуре супрагранулярного слоя коры больших полушарий у 33 мужчин с клинически высоким риском развития эндогенных психозов, у которых за длительный период катамнестического наблюдения (6.7±0.6 года) не было зарегистрировано манифестации психотического расстройства, и у контрольной группы из 34 психически здоровых испытуемых, соответствующих по полу и возрасту. В группе клинически высокого риска обнаружены изменения, потенциально свидетельствующие о преобладании снижения толщины супрагранулярного слоя по сравнению со снижением толщины инфрагранулярного слоя коры. Результаты рассматриваются в рамках концепции о маркерах компенсаторных процессов и риске развития эндогенных психозов.

The present study is the first to explore indirect morphometric measures of supragranular layer structural changes in 33 non-converted individuals at clinical high risk for endogenous psychosis (CHR, follow-up period of 6.7±0.6 years) and in 34 healthy controls matched by gender and age. We found alterations that are indicative of potential predominance of supragranular thinning compared to a decrease of infragranular cortical layer thickness in CHR group. The results are discussed within the context of concepts of resilience and risk markers to developing endogenous psychosis.